Mikroskop
secara sederhana diartikan sebagai sebuah alat yang memungkinkan
manusia untuk mengamati suatu benda atau makhluk hidup yang berukuran
terlampau kecil sehingga tidak bisa dilihat dan diamati hanya dengan
menggunakan mata telanjang.
Zacharias Janssen |
Hans Janssen |
Ada 2 jenis mikroskop elektron yang biasa digunakan, yaitu transmission
electron microscopy (TEM) dan scanning electron microscopy (SEM). TEM
dikembangkan pertama kali oleh Ernst Ruska dan Max Knoll, 2 peneliti
dari Jerman pada tahun 1932. Saat itu, Ernst Ruska masih sebagai seorang
mahasiswa doktor dan Max Knoll adalah dosen pembimbingnya. Karena hasil
penemuan yang mengejutkan dunia tersebut, Ernst Ruska mendapat
penghargaan Nobel Fisika pada tahun 1986. Sebagaimana namanya, TEM
bekerja dengan prinsip menembakkan elektron ke lapisan tipis sampel,
yang selanjutnya informasi tentang komposisi struktur dalam sample
tersebut dapat terdeteksi dari analisis sifat tumbukan, pantulan maupun
fase sinar elektron yang menembus lapisan tipis tersebut. Dari sifat
pantulan sinar elektron tersebut juga bisa diketahui struktur kristal
maupun arah dari struktur kristal tersebut. Bahkan dari analisa lebih
detail, bisa diketahui deretan struktur atom dan ada tidaknya cacat
(defect) pada struktur tersebut. Hanya perlu diketahui, untuk observasi
TEM ini, sample perlu ditipiskan sampai ketebalan lebih tipis dari 100
nanometer. Dan ini bukanlah pekerjaan yang mudah, perlu keahlian dan
alat secara khusus. Obyek yang tidak bisa ditipiskan sampai order
tersebut sulit diproses oleh TEM ini. Dalam pembuatan divais
elektronika, TEM sering digunakan untuk mengamati penampang/irisan
divais, berikut sifat kristal yang ada pada divais tersebut. Dalam
kondisi lain, TEM juga digunakan untuk mengamati irisan permukaan dari
sebuah divais.
Tidak jauh dari lahirnya TEM, SEM dikembangkan pertama kali tahun 1938
oleh Manfred von Ardenne (ilmuwan Jerman). Konsep dasar dari SEM ini
sebenarnya disampaikan oleh Max Knoll (penemu TEM) pada tahun 1935. SEM
bekerja berdasarkan prinsip scan sinar elektron pada permukaan sampel,
yang selanjutnya informasi yang didapatkan diubah menjadi gambar.
Imajinasi mudahnya gambar yang didapat mirip sebagaimana gambar pada
televisi.
Cara terbentuknya gambar pada SEM berbeda dengan apa yang terjadi pada
mikroskop optic dan TEM. Pada SEM, gambar dibuat berdasarkan deteksi
elektron baru (elektron sekunder) atau elektron pantul yang muncul dari
permukaan sampel ketika permukaan sampel tersebut discan dengan sinar
elektron. Elektron sekunder atau elektron pantul yang terdeteksi
selanjutnya diperkuat sinyalnya, kemudian besar amplitudonya ditampilkan
dalam gradasi gelap-terang pada layar monitor CRT (cathode ray tube).
Di layar CRT inilah gambar struktur obyek yang sudah diperbesar bisa
dilihat. Pada proses operasinya, SEM tidak memerlukan sampel yang
ditipiskan, sehingga bisa digunakan untuk melihat obyek dari sudut
pandang 3 dimensi.
Tidak ada komentar:
Posting Komentar